Teradyne社（旧GenRad）のインサーキットテスターにオプションで用意される、Basic Scan™と ScanPath Finder™は、バウンダリスキャン対応デバイスをテストするのに最適なソリューションを提供します。ISPツール（ISPデバイスのシリアル・ベクタ・ディスクリプション・データよりプログラミングデータを自動生成するツール）を使ってFPGA/CPLDへのプログラミングも可能です。

また、各バウンダリスキャンテストベンダー（Acculogic, Asset, Corelis, Goepel, JTAG, etc.）のツール類とのインテグレーションも可能になりました。
▲ New features of Version 5.9.0 include

IEEE-1149.1に準拠したバウンダリスキャンデバイスのデジタルインサーキットライブラリを生成するツールです。このソフトウェアは、デバイスのバウンダリスキャン情報が書かれたBSDL（Boundary-Scan Description Language）ファイルをDTS（Digital Test Source）モデルに自動変換します。

特徴

バウンダリスキャン機能を利用し、デバイスのピンオープンとスタック不良を検出するためのライブラリ（DTS）を自動生成します。従って、以下のような利点があります。

◆ デバイスの複雑な動作を理解する必要がない
◆ ライブラリ作成期間が大幅に短縮できる
◆ 不良検出率が高い
◆ どのピンが不良か正確に診断できる

基板上のバウンダリスキャンデバイスの接続に対して、デジタルファンクション的に複数個のデバイスを一度にテストします。

主なテスト項目

・ HARDWARE テスト
	スキャンパス及び各レジスタのチェック
・ OPEN テスト
	各BSデバイスの外端ノードのオープンチェック
・ INTERACTION テスト
	ピュアBS信号と非BS信号間のオープン、ショートテスト
・ INTER CONNECTION テスト
	ピュアBS信号のオープン、ショートテスト
・ ID CODE/USER CODE テスト
	デバイス固有のレジスタのテスト（バージョン確認、誤実装）
・ VIRTUAL PIN
	BSセルから外部ICのドライブ／センスを行う

テラダイン社のインサーキットテスターをお持ちでない場合でもご安心下さい。お好みのバンダリスキャンツールと、必要なテストを選び、測定機器、その他ハードウェアを組み合わせて、高品質でコストパフォーマンスの高い検査システムの構築が可能です。